Магистратура,  V курс
специальность – 510402  
магистерская программа 402/12
СДМ.В.01  

Примерный перечень вопросов к экзамену по курсу
"ПРИКЛАДНАЯ МОЛЕКУЛЯРНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ"
Денисов Глеб Семенович, д.ф.-м.н., профессор

1.	Измерение частот в спектрах. Калибровка оси абсцисс в спектральных приборах.
2.	Точность измерения частот в спектрах. Влияние собственной ширины линии (полосы). Требования к точности эталона. Стандарты ЮПАК.
3.	Калибровка шкалы частот в лазерных диодных спектрометрах с помощью эталона Фабри-Перо.
4.	Измерение интенсивности в спектрах испускания и поглощения. Использование эталонов.
5.	Влияние мешающего излучения на измерение интенсивностию. Его природа и учет.
6.	Проверка линейности шкалы ординат в спектральном приборе. Использование эталонов.
7.	Закон Бугера. Область выполнимости, причины отклонений. Единицы коэффициента
8.	поглощения.
9.	Интерферометр Фабри-Перо. Аппаратная функция, спектральный интервал.
10.	Разрешающая способность интерферометра Фабри-Перо, зависимость от коэффициента отражения. Параметр резкости. Влияние поглощения, непараллельности пластин.
11.	Методы сканирования в схемах с интерферометром Фабри-Перо. Выбор диаметра выходной диафрагмы. Мультиплекс.
12.	СИСАМ. Аппаратная функция. Обратно-круговая схема. Основные достоинства и недостатки.
13.	Растровый спектрометр. Аппаратная функция. Основные достоинства и недостатки.
14.	Спектроскопия с преобразованием Адамара. Двойной мультиплексный спектрометр. Основные достоинства и недостатки.
15.	Общий критерий сравнения спектральных приборов. Производительность.
16.	Спектроскопия внешнего отражения, область применимости. Определение оптических постоянных вещества по спектрам внешнего отражения. Методы измерения при нормальном отражении. 
17.	Методы измерения оптических постоянных вещества по спектрам внешнего отражения при вариации углов и/или состояния поляризации пучка. Использование уравнений связи между постоянными.
18.	Основные принципы спектроскопии ослабленного внутреннего отражения. Однократное и многократное отражение. Материалы для изготовления элементов ОВО.
19.	Оптические схемы приставок ОВО и МОВО. Измерение оптических постоянных по спектрам ОВО. Характер зависимости от угла падения. 
20.	Область применимости спектроскопии ОВО. Измерение оптических характеристик поверхностных слоев. Чувствительность метода.
21.	Методы измерения спектров поглощения неоднородных образцов. Иммерсия, KВr-техника.
22.	Спектроскопия диффузного отражения. Относительный вклад зеркального отражения и пропускания, ослабленного поглощением.
23.	Теория диффузного рассеяния Гуревича-Кубелки-Мунка. Область применимости формулы ГКМ. Физический смысл постоянных. Зависимость от размера частиц.
24.	Схемы приставок для измерения спектров диффузного отражения. Интегрирующая сфера. Стандартные схемы для ИК области. Типичные задачи.
25.	Типовые задачи аналитической спектроскопии. Элементный анализ, молекулярный анализ, структурно-групповой анализ, определение чистоты вещества, изотопный анализ.
26.	Основные понятия Аналитики - измеренное значение, результат, правильность, воспроизводимость. Характеристики методов - предел обнаружения, избирательность, универсальность, экспрессность, простота, возможность автоматизации.
27.	Аналитические возможности молекулярной спектроскопии. Выбор аналитических областей. Использование всей информации, содержащейся в спектре.
28.	Спектроскопия открытого пути - применение в экологических целях. Мониторинг атмосферы, водной среды, почвы.
29.	Сочетание методов молекулярной спектроскопии с методами хроматографии и масс-спектрометрии при решении аналитических задач.